Pesquisa

Difração Múltipla

Na difração múltipla, um único feixe de raios-X incidente produz simultaneamente mais de um feixe difratado. A difração múltipla é interessante por causa da sua grande sensibilidade – ela permite a detecção de pequenas distorções na rede cristalina do material. Além disso, fornece informações tridimensionais sobre as redes, inclusive sobre as possíveis interfaces presentes entre …

Produção Científica e Tecnológica

"An X-Ray Microdensitometer", L.P. Cardoso and S. Caticha-Ellis, J. Phys. E (Scient. Instrum.) (1979) 12, 545(atualmente Rev. Sci. Instrum.) "X-Ray Interference by Division of Wave-Front: A New X-Ray Interferometer", S.L. Chang and C. Campos , Appl. Phys. Lett., 40(7), 558-559 (1982) "A Simple Method to Cut a single crystal in any desired direction",C. Campos, L. P. Cardoso and S. Caticha-Ellis, J.Appl. Cryst. (1983) 116, …

Patentes

 Patente de Invenção "Microdensitômetro de Raios-X", L. P. Cardoso e S. Caticha-Ellis, INPI 8.901.874 de 20/04/89, Rev. Prop. Industrial no 988 de 26/09/89, pag.48  Patente de Invenção "Monocromador-colimador de Raios-X de alta precisão", L. P. Cardoso e S. Caticha-Ellis, INPI 8.901.875 de 20/04/89, Rev. Prop. Industrial no 988 de 26/09/89, pag. 43

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