![\"STM1\"](\"https:\/\/sites.ifi.unicamp.br\/zagonel\/files\/2015\/10\/STM1.png\")
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O movimento da ponta \u00e9 realizado variando-se a tens\u00e3o aplicada em cristais piezoel\u00e9tricos que s\u00e3o montados, por exemplo, na base da amostra, como mostra a figura. 4 cristais fazem os movimentos laterais (plano XY da amostra) e um quinto cristal piezoel\u00e9trico faz o movimento vertical. Nessa ilustra\u00e7\u00e3o a ponta permanece fixa e a amostra \u00e9 movimentada.<\/p>\n
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<\/p>\n Al\u00e9m disso, ajustando a tens\u00e3o entre a ponta e a amostra, \u00e9 poss\u00edvel injetar portadores de carga e gerar luminesc\u00eancia local. Ao se recuperar a luz emitida, \u00e9 poss\u00edvel estudar o espectro de luminesc\u00eancia local de amostras complexas.<\/p>\n <\/p>\n Na figura ao lado uma lente \u00e9 aproximada da regi\u00e3o entre a ponta e a amostra. Essa lente pode coletar a luz emitida pela amostra e, atrav\u00e9s de uma \u00f3tica de transfer\u00eancia, injetar a luz em um espectr\u00f4metro. Assim \u00e9 poss\u00edvel mapear a emiss\u00e3o de luz pela amostra com resolu\u00e7\u00e3o nanom\u00e9trica. Ao mesmo tempo, \u00e9 poss\u00edvel coletar espectros com resolu\u00e7\u00e3o espectral melhor que 1 nm no vis\u00edvel.<\/p>\n <\/p>\n Recentemente, um projeto foi aprovado para o desenvolvimento dessas atividades. Mais informa\u00e7\u00f5es ser\u00e3o disponibilizadas em breve. Veja mais informa\u00e7\u00f5es sobre o projeto no site da FAPESP seguindo este link<\/a>.<\/p>\n Foto do Microsc\u00f3pio de Varredura de Tunelamento (STM) que opera em ultra alto v\u00e1cuo (UHV) e em baixas temperaturas (LT), atingindo abaixo de 12 K.<\/p>\n Fotos o microsc\u00f3pio dentro do duplo escudo que faz a isola\u00e7\u00e3o t\u00e9rmica. Do lado direito est\u00e1 um suporte com v\u00e1rias amostras e do lado esquerdo um suporte com v\u00e1rias pontas.<\/p>\n<\/a>As imagens podem ser obtidas variando-se a altura da amostra (lembrado que a ponta \u00e9 fixa) para manter a dist\u00e2ncia entre o \u00e1pice da ponta e a superf\u00edcie da amostra constante. Assim, o movimento da amostra poder\u00e1 ser utilizado para reconstruir a topografia da superf\u00edcie. Dependendo das condi\u00e7\u00f5es, \u00e9 poss\u00edvel se obter at\u00e9 imagens de resolu\u00e7\u00e3o at\u00f4mica.<\/p>\n<\/a><\/p>\n<\/a><\/p>\n<\/a> <\/a><\/p>\n