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FI216/F015 – Tópicos de Física Experimental – Técnicas Experimentais Avançadas de Física de Superfícies

Professor: Abner de Siervo ; IFGW/ DFA – sala 57 /lab. 91 e 96;  asiervo@ifi.unicamp.br

https://sites.ifi.unicamp.br/asiervo/teach/fi216-f015-topic…a-de-superficies/  

Ementa: Introdução: do sólido à superfície. Instrumentação de ultra-alto vácuo. Espectroscopia de elétrons e análise química. Adsorção, desorção e reação química. Estrutura atômica de superfície. Estrutura eletrônica de superfícies.

Objetivos: Esta disciplina tem o objetivo de introduzir as principais técnicas de estudo de superfícies abordando aspectos fundamentais e aplicações. Em particular será dado ênfase às espectroscopias baseadas na emissão de elétrons (fotoemissão e recombinação Auger: XPS (Espectroscopia de fotoemissão), AES (Espectroscopia de elétrons Auger), ARPES (Angle ResolvedPhotoelectron Spectroscopy). Será dado ênfase ao estudo da estrutura eletrônica de materiais. O curso também abordará aspectos experimentais para o estudo da estrutura atômica de superfície apresentando alguma técnicas consagradas baseadas em difração de elétrons: LEED (Difração de elétrons lentos) e  PED (Difração de fotoelétrons); bem como  microscopia de varredura por tunelamento (STM).

Topico1: Introdução do Sólido à superfície

Topico2-Introdução a Tecnologia UHV

Tópico3- Introdução a espectroscopia de elétrons

Tópico 4- Espectroscopia de elétrons para análise química

Topico5 – Adsorção dessorção e reações químicas em superfícies

Avaliação P1  (20/09/2018).

Topico6 -Estrutura de superfícies_Difração de elétrons

Topico 7 – Estrutura de superfícies: Difração de fotoelétrons (XPD ou PED)

Tópico 8: Introdução à técnica de microscopia e espectroscopia de tunelamento de elétrons (STM)

Prática: Execução de um experimento envolvendo as técnicas abordadas na disciplina. 

Topico9 – Angle resolved Photoelectron Spectroscopye resolved Photoelectron Spectroscopy

Prova_2_FI216_2s2018. Entrega do relatório. 

 

Critérios de Avaliação (alunos de Graduação): A nota de aproveitamento será calculada como A=(P+S+T)/3 onde P será a média de P1 e P2 (duas provas baseadas em listas de exercícios, conceituais e abordados em sala de aula).  S será a avaliação da apresentação/arguição de um seminário (em grupo) baseado em um tópico relacionado à disciplina. T será a nota baseada em um relatório de um experimento realizado pelos alunos.

A frequência mínima será de 75%.

A>= 7.0 (aprovado). A=NF (NF= Nota Final)

Se A<7.0 à Exame baseado em uma arguição.

NF= (A+E)/2.  Se NF >= 5.0, aprovado.

 

Critérios de Avaliação (alunos de Pós-Graduação):

Avalição será A (NF>8.5), B (7.0 ≤NF≤8.5), C(5.0 ≤NF<7.0), e D (NF<5.0).

 

Resultado das Avaliações

 

Bibiografia:

1-       Surface Physics: An Introduction, Written and published by Philip Hofmann (http://www.philiphofmann.net/Philip_Hofmann/SurfacePhysics.html)

2-       Photoelectron Spectroscopy – Principles and Applications, Stefan Hüfner, 2nd Edition, Springer.

3-       Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (2nd Edition), C. Julian Chen, Oxford University Press. 

4-       Notas de Aula.

 

Links para artigos e notas interessantes: